{"id":"faafc842-4ad1-49ce-9206-813f292804e6","role":"assistant","content":"{\"content\":\"素材解析设备主要包括以下几种类型：\\n\\n1. **扫描电子显微镜 (WSEM-EDS)**：这是一种基于高能电子束照射样品表面原理的设备。它可以激发出多种信号，包括二次电子、背散射电子和特征X射线。通过牛津EDS联用，该设备能够对样品的元素进行定性及半定量分析。\\n\\n2. **场发射扫描电子显微镜 (FESEM-EDS)**：相比钨灯丝电镜，这种设备在分辨率和成像质量上具备优势，能达到亚纳米级分辨率。低加速电压下的分辨率远超钨灯丝电镜，配合InLens二次电子探测器实现高分辨率的表面形貌分析。\\n\\n3. **超景深显微镜**：基于成像原理，这种显微镜通过高分辨率成像、超景深成像、光学相位调制等技术实现全景式的三维成像，能够充分获取焦平面及其外的深度信息。\\n\\n4. **超声波探伤仪 (UT)**：通过检测超声波在材料间的反射特点，能够识别材料界面中的剥离、空孔等。\\n\\n5. **X射线衍射仪 (XRD)**：通过晶体中的衍射现象进行化合物的定性、定量及晶体结构分析。\\n\\n6. **傅里叶变换红外光谱仪 (FT-IR)**：用于分析分子的红外光吸收，以进行化合物的定性分析。\\n\\n每种设备都能为素材分析提供特定的功能和能力，可根据需求选择相应的设备。此外，这些设备还具备数据管理和报告生成功能，能与计算机和网络连接以促进数据共享和远程操控。\",\"retriever_resources\":[{\"position\":1,\"dataset_id\":\"52fa6710-d8ac-47a5-bca1-26e6b1d75308\",\"dataset_name\":\"TXM 材料研究中心\",\"document_id\":\"355899f4-7196-4a9e-938e-3950a2d4db1c\",\"document_name\":\"SGA资料--删除图片版.html\",\"data_source_type\":\"upload_file\",\"segment_id\":\"065b2879-be2f-4b68-a830-4fc5afb491f0\",\"retriever_from\":\"api\",\"score\":0.5389372291119363,\"hit_count\":null,\"word_count\":null,\"segment_position\":null,\"index_node_hash\":null,\"content\":\"素材解析设备介绍12原理WSEM-EDS：扫描电子显微镜高能电子束照射到样品表面后，激发出多种信号，包括二次电子、背散射电子和特征X射线等。。二次电子像反映样品细微的凹凸，反射电子像反映样品表面的成分分布。。\\r\\n通过与牛津EDS联用，实现对样品元素进行定性及半定量分析。。设备能力样品要求原理FESEM在分辨率和成像质量上均优于钨灯丝电镜，其分辨率可达到亚纳米级，成像质量更为出色。。低加速电压下的分辨率远远超过钨灯丝电镜。。独特的InLens 二次电子探测器，实现高分辨率的表面形貌分析。。\\r\\n与高性能牛津 X-MaxN 50 EDS联用，信号更强，点、线、面分析速度更快，可实现对低含量元素的分布确认。。(与WSEM-EDS比较）FE-SEM-EDS：场发射扫描电子显微镜设备能力样品要求5FESEM (场发射电镜)-EDS vs WEDS(钨灯丝电镜)-EDS大面积能谱可以减小束流，小束流可提高图像质量，减小试样损伤。。大面积能谱仪可以在低束流即高空间分辨率下获得足够计数，提高分辨率。。超景深显微镜是一种基于成像原理的显微镜。。通过高分辨率成像、超景深成像、光学相位调制和图像处理等关键技术可以同时获得焦平面以及焦平面之外的深度信息，实现全景式的三维成像。。3D-OM：高景深3D显微镜原理设备能力样品要求原理UT：超声波探伤仪设备能力样品要求超声波在传播途中，遇到材料特性(声阻抗)聚变的界面，部分声波会反射，按原路径返回。。根据反射回来的声波有无、强弱来检测所经传播路径中的材料界面、剥离、空孔等。。X射线在晶体中产生衍射现象，衍射线的空间分布方位和强度与晶体的结构密切，基于布拉格定律及晶体学知识，实现对化合物的定性、定量及晶体结构分析。。\\r\\n晶体中的应力会引起晶面间距的变化。。根据胡克定律(F=k∆x )，通过测量晶体中晶面间距的变化，可以间接推断出晶体中的应力信息‌。。XRD ：X射线衍射仪原理设备能力样品要求原理FT-IR ：傅里叶变换红外光谱仪利用与分子键振动对应的红外线吸收对化合物进行定性分析。。\\r\\n分子受到红外光照射，分子中的化学键或官能团会发生振动和转动，当振动和转动的频率与红外光的频率相匹配时，分子会吸收红外光，形成红外吸收谱。。设备能力样品要求X射线照射到样品上时，产生特征X射线（荧光X射线）。\",\"page\":null,\"doc_metadata\":null,\"title\":null,\"files\":null,\"source_url\":\"https:\\\/\\\/tdkgroup.sharepoint.com\\\/sites\\\/TCN-TXM-TDKChina_Portal-SP1377\\\/Shared%20Documents\\\/AI%E5%AD%A6%E4%B9%A0%E8%B5%84%E6%96%99\\\/SGA%E8%B5%84%E6%96%99--%E5%88%A0%E9%99%A4%E5%9B%BE%E7%89%87%E7%89%88.pptx\"},{\"position\":2,\"dataset_id\":\"52fa6710-d8ac-47a5-bca1-26e6b1d75308\",\"dataset_name\":\"TXM 材料研究中心\",\"document_id\":\"2574b944-83f1-46f4-97ea-efcdbaec6438\",\"document_name\":\"VE-9800_168045_3_3.pdf\",\"data_source_type\":\"upload_file\",\"segment_id\":\"4142cd80-72a1-4e8f-add3-1b23d9f9c5f8\",\"retriever_from\":\"api\",\"score\":0.3868905420766577,\"hit_count\":null,\"word_count\":null,\"segment_position\":null,\"index_node_hash\":null,\"content\":\"1\\r\\n3 4 2 5 6 8 7 9 10 12 11 13\\r\\n15 14\\r\\n16\\r\\n17\\r\\nアルバム画面では、保存された画像をサムネイルで一覧表示。\\r\\n画像と一緒に保存されている観察設定やコメントも閲覧でき、\\r\\nファイル名に頼ることなく目的の画像を素早く見つけられます。\\r\\n［ アルバム画面で簡単データ管理 ］\\r\\n観察条件やコメントも一覧表示\\r\\n簡単なマウス操作で、試料の各部を計測、定量化。自動で複数箇所の各種\\r\\n特徴値を計測する機能もご用意。計測データは画面に表示、プリントする\\r\\nほか、テキストデータで保存して表計算ソフトでも利用可能です。\\r\\nマウスクリックで簡単に定量解析\\r\\nビルトイン計測機能で観察・計測がシームレス\\r\\n輝度により抽出された複数のエリアに対し面積\\r\\nや周囲長などを自動計測。計測結果は一覧\\r\\n表示以外に、ヒストグラム表示も可能。粒子\\r\\n解析など多くの試料の計測が素早くできます。\\r\\n自動計測機能で多点計測も簡単\\r\\n測定したいポイントをマウスでクリックするだけで試料各部の距離や\\r\\n半径、面積を計測。豊富な計測ツールで思いのままの計測が可能です。\\r\\n豊富なツールで思いのままの計測\\r\\n画像を選択し「レポート」ボタン\\r\\nをクリックすれば、画像と設定・\\r\\nコメントなどの情報を表計算ソフ\\r\\nトに出力できるレポート機能。\\r\\nレポート作成もボタン一つ\\r\\n制御用のPCをネットワークに接続すれば、居室や離れた事業所\\r\\nからも観察画像の閲覧・加工が可能です。\\r\\nネットワークで共有も簡単\\r\\n自動計測データ\\r\\nヒストグラム表示\\r\\n円中心間距離\\r\\n垂 線\\r\\n平行線\\r\\n2点間距離\\r\\n角 度 2\\r\\n半 径 角 度 1\\r\\nカウント\\r\\n2点間の距離を計測\\r\\n指定した平行線の線間を計測 2つの円の中心間距離を計測\\r\\n3点で指定した円の半径を計測 3点で指定した角度を計測\\r\\n指定した直線からの垂線距離を計測 クリックされたポイントをカウント\\r\\n2直線の交わる角度を計測\\r\\nRoom.1 Room.2 Room.3\\r\\nLAN接続 アルバムに保存している画像を閲覧できます\\r\\nLABO\\r\\nオプション \\n15\",\"page\":null,\"doc_metadata\":null,\"title\":null,\"files\":null,\"source_url\":\"https:\\\/\\\/tdkgroup.sharepoint.com\\\/sites\\\/TCN-TXM-TDKChina_Portal-SP1377\\\/Shared%20Documents\\\/AI%E5%AD%A6%E4%B9%A0%E8%B5%84%E6%96%99\\\/%E6%89%AB%E6%8F%8F%E7%94%B5%E9%95%9C\\\/VE-9800_168045_3_3.pdf\"},{\"position\":3,\"dataset_id\":\"52fa6710-d8ac-47a5-bca1-26e6b1d75308\",\"dataset_name\":\"TXM 材料研究中心\",\"document_id\":\"6c043420-b8b7-4b7c-b3ac-9004a38af568\",\"document_name\":\"五、EDS分析技巧方法.pdf\",\"data_source_type\":\"upload_file\",\"segment_id\":\"1ef42215-5f05-47db-921c-8eb364e9e264\",\"retriever_from\":\"api\",\"score\":0.34210750460624695,\"hit_count\":null,\"word_count\":null,\"segment_position\":null,\"index_node_hash\":null,\"content\":\"© Oxford Instruments 2016 CONFIDENTIAL Page 60\\r\\nThe Business of Science®\\r\\n• LayerProbe分析从基体及薄膜激发出的X-ray信号\\r\\n• 如下特点\\r\\n• 高分辨率(<<1000nm)\\r\\n• 典型厚度范围: \\n1 – 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